昆山PCB公司-緯亞電子訊：飛針測試是一個(gè)檢查PCB電性功能的方法（開(kāi)短路測試）之一。飛測試機是一個(gè)在制造環(huán)境測試PCB抄板的系統。不是使用在傳統的在線(xiàn)測試機上所有的傳統針床(bed-of-nails)界面，飛針測試使用四到八個(gè)獨立控制的探針，移動(dòng)到測試中的元件。在測單元(UUT, unit under test)通過(guò)皮帶或者其它UUT傳送系統輸送到測試機內。然后固定，測試機的探針接觸測試焊盤(pán)(test pad)和通路孔(via)從而測試在測單元(UUT)的單個(gè)元件。測試探針通過(guò)多路傳輸(multiplexing)系統連接到驅動(dòng)器(信號發(fā)生器、電源供應等)和傳感器(數字萬(wàn)用表、頻率計數器等)來(lái)測試UUT上的元件。當一個(gè)元件正在測試的時(shí)候，UUT上的其它元件通過(guò)探針器在電氣上屏蔽以防止讀數干擾。

飛針測試程式的制作的步驟：

方法一
一：導入圖層文件，檢查，排列，對位等，再把兩個(gè)外層線(xiàn)路改名字為fronrear.內層改名字為ily02,ily03,ily04neg(若為負片),rear,rearmneg。
二：增加三層，分別把兩個(gè)阻焊層和鉆孔層復制到增加的三層,并且改名字為fronmneg,rearmneg,mehole.有盲埋孔的可以命名為met01-02.,met02-05,met05-06等。
三：把復制過(guò)去的fronmneg,rearmneg兩層改變D碼為8mil的round。我們把fronmneg叫前層測試點(diǎn)，把rearmneg叫背面測試點(diǎn)。
四：刪除NPTH孔，對照線(xiàn)路找出via孔，定義不測孔。
五：把fron,mehole作為參考層,fronmneg層改為on,進(jìn)行檢查看看測試點(diǎn)是否都在前層線(xiàn)路的開(kāi)窗處。大于100mil的孔中的測試點(diǎn)要移動(dòng)到焊環(huán)上測試。太密的BGA處的測試點(diǎn)要進(jìn)行錯位?？梢赃m當的刪除一些多余的中間測試點(diǎn)。背面層操作一樣。
六：把整理好的測試點(diǎn)fronmneg拷貝到fron層，把rearmneg拷貝到rear層。 杭州PCB|杭州smt
七：激活所有的層，移動(dòng)到10,10mm處。
八：輸出gerber文件命名為fron,ily02,ily03,ily04neg,ilyo5neg,rear,fronmneg,rearmneg,mehole，met01-02,met02-09,met09-met10層。然后用Ediapv軟件
一：導如所有的gerber文件fron,ily02,ily03,ily04neg,ilyo5neg,rear,fronmneg,rearmneg,mehole，met01-02,met02-09,met09-met10層。
二：生成網(wǎng)絡(luò )。net annotation of artwork按扭。
三：生成測試文件.make test programs按扭，輸入不測孔的D碼。
四：保存，
五：設置一下基準點(diǎn)，就完成了。然后拿到飛針機里測試就可以了。

個(gè)人感覺(jué)：

1、用這種方法做測試文件常常做出很多個(gè)測試點(diǎn)來(lái)，不能自動(dòng)刪除中間點(diǎn)。
2、對孔的測試把握不好。在ediapv中查看生成的連通性（開(kāi)路）測試點(diǎn)，單獨的孔就沒(méi)有測試點(diǎn)。又比如：孔的一邊有線(xiàn)路，而另一邊沒(méi)有線(xiàn)路，按道理應該在沒(méi)有線(xiàn)路的那一邊對孔進(jìn)行測試?？墒怯胑diapv轉換生成的測試點(diǎn)是隨機的，有時(shí)候在對有是后錯。

3 針對REAR面防焊沒(méi)有開(kāi)窗的可以將REAR層的名字命成其它名字，這樣在EDIAPV中就不會(huì )莫明其妙的跑出測點(diǎn)來(lái)了。

4 如果有MEHOLE兩面只有一面開(kāi)窗，但是跑出來(lái)有兩面都有測點(diǎn)的話(huà)，可以再按一次這個(gè)make test programs按扭

 

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