PCB電測的方法與設備有哪些呢?一般來(lái)講，PCB電性測試的辦法有：專(zhuān)用型(Dedicated)、泛用型(UniversalGrid)、飛針型(FlyingProbe)、非接觸電子束(E- Beam)、導電布(膠)、電容式(Capacity)及刷測(ATG-SCANMAN)，其中常運用的設備有三種，分別是專(zhuān)用測試機、泛用測試機及飛針測試機。為了更理解各種設備的功用，smt專(zhuān)家網(wǎng)將分別比擬三種主要設備的特性。

1、專(zhuān)用型(Dedicated)測試

專(zhuān)用型的測試之所以為專(zhuān)用型，主要是由于其所運用的治具(Fixture,如電路板停止電性測試的針盤(pán))僅適用于一種料號，不同料號的板子就無(wú)法測試，而且無(wú)法回收運用。

測試點(diǎn)數方面，單面板在10,240點(diǎn)、雙面各8,192點(diǎn)以?xún)染勺鳒y試，在測試密度方面，由于探針頭粗細的關(guān)系，較合適運用于pitch以上的板子。

2、泛用型(UniversalGrid)測試

泛用型測試的根本原理是PCB線(xiàn)路的版面是根據格子(Grid)來(lái)設計，普通所謂線(xiàn)路密度就是指grid的間隔，也就是以間距(Pitch)來(lái)表示(部份時(shí)分也可用孔密度來(lái)表示)，而泛用測試就是根據此一原理，根據孔位置以一G10的基材作Mask，只要在孔的位置探針才干穿過(guò)Mask停止電測，因而治具的制造簡(jiǎn)易而快速，而且探針可反復運用。泛用型測試具有極多測點(diǎn)的規范Grid固定大型針盤(pán)，可分別按不同料號而制造活動(dòng)式探針的針盤(pán)，量產(chǎn)時(shí)只需改換活動(dòng)針盤(pán)，就能夠對不同料號量產(chǎn)測試。另外，為保證竣工的PCB板線(xiàn)路系統通暢，需在運用高壓電(如250V)多測點(diǎn)的泛用型電測母機上，采用特定接點(diǎn)的針盤(pán)對板子停止 Open/Short電性測試，此種泛用型的測試機稱(chēng)之為「自動(dòng)化測試機」(ATE,AutomaticTestingEquipment)。

泛用型測試點(diǎn)數通常在1萬(wàn)點(diǎn)以上，測試密度在或是的測試稱(chēng)為on-grid測試，若是運用于高密度板，由于間距太密，已脫離on-grid設計，因而屬于off-grid測試，其治具就必需要特殊設計，通常泛用型測試的測試密度可達QFP。

3、飛針(FlyingProbe)測試

飛針測試的原理很簡(jiǎn)單，僅僅需求兩根探針作x、y、z的挪動(dòng)來(lái)逐一測試各線(xiàn)路的兩個(gè)端點(diǎn)，因而不需求另外制造昂貴的治具。但是由于是端點(diǎn)測試，因而測速極慢，約為10~40points/sec，所以較合適樣品及小量產(chǎn);在測試密度方面，飛針測試可適用于極高密度板()，如MCM。

以上就是關(guān)于"PCB電測的方法與設備"的介紹，在電子產(chǎn)品的生產(chǎn)過(guò)程中，因瑕疵而造成成本的損失，在各個(gè)階段都有不同的程度，越早發(fā)現則補救的成本越低。因此，電性測試對于PCB業(yè)者而言，可以及早發(fā)現線(xiàn)路功能缺陷的板子。